中圖儀器高分辨率sem掃描電鏡品牌具有空間自由+高效精準+定制適配+可靠保障的特點，能夠解決檢測場地受限、操作復雜拖慢進度、振動環境下數據不準測量痛點。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現微觀的形貌和元素分析等。

中圖儀器CEM3000系列材料觀察分析一體化掃描電鏡4nm高清+40秒快檢！以“空間自由+高效精準+定制適配+可靠保障”四大核心優勢，直擊B端檢測核心需求，讓微觀觀測更靈活、更高效、更可靠！

中圖儀器CEM3000系列納米形貌觀測掃描電鏡以“空間適配+性能強+易用高效“三大核心優勢，成為你的檢測增效利器。它操作系統簡便，使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾十秒內就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

CEM3000系列100Pa倉內真空度掃描電鏡操作系統簡便，使用過程簡單快捷。具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業需求，包括半導體芯片失效分析。

傳統的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個專門的房間或設施，而中圖儀器國產掃描電鏡公司的CEM3000系列掃描電鏡的框架尺寸還有所縮小，具有更高的易用性，要堅固耐用得多。

CEM3000系列自動化顆粒度統計掃描電鏡具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業需求，包括半導體芯片失效分析。無論樣品尺寸、重量、導電性如何，掃描電鏡都可以讓您輕松應對挑戰，獲得出色的SEM圖像和SEM分析結果。