NS系列亞納米級(jí)垂直分辨率臺(tái)階儀臺(tái)階高度重復(fù)性能低于5A，Z0向測量量程可到1050um。最高垂直分辨率可達(dá)亞埃米級(jí)，且垂直方向動(dòng)態(tài)比率高，可以獲取表面輪廓形貌、粗糙度、波紋度、形狀誤差及其它一些形貌特征等綜合信息。探針物理接觸測量結(jié)果穩(wěn)定可靠，重復(fù)性好，精準(zhǔn)拿捏測量的輪廓形貌細(xì)節(jié)。

中圖儀器微觀3D形貌共聚焦顯微鏡主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)膜材、顯示行業(yè)、超精密加工等諸多領(lǐng)域中的微觀形貌和輪廓尺寸檢測中，其次是對(duì)表面粗糙度、面積、體積等參數(shù)的檢測中。

CEM3000中圖儀器臺(tái)式電鏡是一款用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設(shè)備。憑借空間分辨率出色和易用性強(qiáng)，用戶能夠非?？旖莸剡M(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

CEM3000系列掃描電鏡中圖儀器是一款用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設(shè)備。憑借空間分辨率出色和易用性強(qiáng)，用戶能夠非?？旖莸剡M(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

中圖儀器0.1nm分辨率白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

CEM3000微觀形貌觀測分析掃描電鏡在自動(dòng)程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000臺(tái)式掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個(gè)電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。