SuperView W1系列納米級白光干涉三維形貌儀以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標準參數，一站式解決超精密測量精度不足、多材質適配難、批量檢測效率低等測量難題。應用覆蓋半導體、3C電子等多行業場景，數據驅動檢測，賦能精密制造升級。

中圖儀器CEM3000系列材料觀察分析一體化掃描電鏡4nm高清+40秒快檢！以“空間自由+高效精準+定制適配+可靠保障”四大核心優勢，直擊B端檢測核心需求，讓微觀觀測更靈活、更高效、更可靠！

中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復性白光干涉儀一鍵完成單/多區域自動測量、批量分析，編程測量功能可預設流程實現一鍵操作，單個精細器件測量用時短，大幅提升檢測 throughput。

中圖儀器CEM3000系列納米形貌觀測掃描電鏡以“空間適配+性能強+易用高效“三大核心優勢，成為你的檢測增效利器。它操作系統簡便，使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾十秒內就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

NS系列納米臺階高度測量儀應用場景適應性強，其對被測樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無特殊要求，可測量沉積薄膜的臺階高度、抗蝕劑（軟膜材料）的臺階高度等。

VT6000輪廓尺寸檢測共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。