三維輪廓儀測粗糙度：SuperView W光學3D表面輪廓儀功能詳解

在精密制造領域，表面粗糙度的測量是確保產品質量的關鍵步驟。光學3D表面輪廓儀為這一需求提供了解決方案。

在半導體制造、3C電子、光學加工等高精度行業，表面粗糙度的測量精度直接影響到產品的性能和可靠性。SuperView W系列光學3D表面輪廓儀正是為了滿足這一需求而設計的。

產品特點

SuperView W系列光學3D表面輪廓儀采用了白光干涉技術，結合精密Z向掃描模塊和3D建模算法，能夠對各種精密器件及材料表面進行亞納米級的測量。這種非接觸式的掃描方式不僅避免了對被測物體的損傷，還提供了高測量精度和重復性。

測量原理

該系列輪廓儀的工作原理基于光學干涉技術，通過白光LED作為光源，對被測物體表面進行照射。由于白光具有寬廣的光譜，能夠提供更高的測量精度和分辨率。通過精密的Z向掃描，設備能夠捕捉到物體表面的微觀形貌，并利用3D建模算法重建出物體的3D圖像。

應用領域

SuperView W系列光學3D表面輪廓儀的應用領域非常廣泛，包括但不限于半導體制造、3C電子產品的玻璃屏、光學元件的曲率和輪廓尺寸測量、超精密加工、微納材料制造、汽車零部件以及航空航天和科研院所的研究工作。

性能特色

1. 高精度與高重復性：采用的光學干涉技術和精密Z向掃描模塊，確保了測量的高精度。

2. 環境噪聲檢測功能：能夠定量評估外界環境對測量的干擾，為設備調試和故障排查提供數據支持。

3. 精密操縱手柄：集成了X、Y、Z三個方向的位移調整功能，使得測量前的準備工作更加快捷。

4. 雙重防撞保護措施：軟件和硬件雙重保護，最大限度降低操作風險。

5. 雙通道氣浮隔振系統：提供了穩定的工作環境，即使在沒有外接氣源的情況下也能正常工作。

技術指標

SuperView W系列提供了多種型號，以滿足不同用戶的需求。它們的技術指標包括但不限于光源、影像系統、干涉物鏡、光學ZOOM、標準視場、物鏡塔臺、XY位移平臺等，均以高標準設計，確保測量結果的準確性和可靠性。

光學3D表面輪廓儀以其高精度、高重復性和強大的功能，為精密制造業提供了一個可靠的測量工具。無論是在科研還是在工業生產中，它都能幫助用戶獲得精確的表面粗糙度數據，從而提升產品質量，滿足日益嚴格的行業標準。